1. Ιδρυματικό Αποθετήριο Ακαδημαϊκής Έρευνας RUOMO
  2. Δημοσιεύσεις Μελών ΔΕΠ, Υποψηφίων Διδακτόρων & Μεταδιδακτόρων
  3. Τμήμα Εφαρμοσμένης Πληροφορικής
Παρακαλώ χρησιμοποιήστε αυτό το αναγνωριστικό για να παραπέμψετε ή να δημιουργήσετε σύνδεσμο προς αυτό το τεκμήριο: https://ruomo.lib.uom.gr/handle/7000/164
Πλήρης εγγραφή μεταδεδομένων
Πεδίο DCΤιμήΓλώσσα
dc.contributor.authorArvanitou, Elvira-Maria-
dc.contributor.authorAmpatzoglou, Apostolos-
dc.contributor.authorChatzigeorgiou, Alexander-
dc.contributor.authorAvgeriou, Paris-
dc.date.accessioned2019-10-28T09:47:49Z-
dc.date.available2019-10-28T09:47:49Z-
dc.date.issued2015-
dc.identifier10.1109/ESEM.2015.7321204en_US
dc.identifier.isbn978-1-4673-7899-4en_US
dc.identifier.urihttps://doi.org/10.1109/ESEM.2015.7321204en_US
dc.identifier.urihttps://ruomo.lib.uom.gr/handle/7000/164-
dc.language.isoenen_US
dc.subjectFRASCATI::Natural sciences::Computer and information sciencesen_US
dc.titleIntroducing a Ripple Effect Measure: A Theoretical and Empirical Validationen_US
dc.contributor.departmentΤμήμα Εφαρμοσμένης Πληροφορικήςen_US
local.identifier.firstpage1en_US
local.identifier.lastpage10en_US
local.identifier.volumetitle2015 ACM/IEEE International Symposium on Empirical Software Engineering and Measurement (ESEM)en_US
Εμφανίζεται στις Συλλογές: Τμήμα Εφαρμοσμένης Πληροφορικής

Αρχεία σε αυτό το Τεκμήριο:
Αρχείο Περιγραφή ΜέγεθοςΜορφότυπος 
arvanitou-metric-ripple_effect.pdf236,68 kBAdobe PDFΠροβολή/Ανοιγμα
Εμφανίστε την απλή εγγραφή


Τα τεκμήρια στο Αποθετήριο προστατεύονται από πνευματικά δικαιώματα, εκτός αν αναφέρεται κάτι διαφορετικό.