Παρακαλώ χρησιμοποιήστε αυτό το αναγνωριστικό για να παραπέμψετε ή να δημιουργήσετε σύνδεσμο προς αυτό το τεκμήριο: https://ruomo.lib.uom.gr/handle/7000/139
Τίτλος: A theoretical model for capturing the impact of design patterns on quality
Συγγραφείς: Charalampidou, Sofia
Ampatzoglou, Apostolos
Avgeriou, Paris
Sencer, Seren
Arvanitou, Elvira-Maria
Stamelos, Ioannis
Θέματα: FRASCATI::Natural sciences::Computer and information sciences
Ημερομηνία Έκδοσης: 2017
Πρώτη Σελίδα: 1231
Τελευταία Σελίδα: 1238
Τίτλος Τόμου: Proceedings of the Symposium on Applied Computing
Μέρος Σειράς: SAC '17
Μέρος Σειράς: SAC '17
URI: https://doi.org/10.1145/3019612.3019781
https://ruomo.lib.uom.gr/handle/7000/139
ISBN: 9781450344869
Αλλοι Προσδιοριστές: 10.1145/3019612.3019781
Εμφανίζεται στις Συλλογές: Τμήμα Εφαρμοσμένης Πληροφορικής

Αρχεία σε αυτό το Τεκμήριο:
Αρχείο Περιγραφή ΜέγεθοςΜορφότυπος 
charalampidou2017sac.pdf494,25 kBAdobe PDFΠροβολή/Ανοιγμα


Τα τεκμήρια στο Αποθετήριο προστατεύονται από πνευματικά δικαιώματα, εκτός αν αναφέρεται κάτι διαφορετικό.